思儀矢量網絡分析儀3672A/B/C/D/E特點：

• 校準類型靈活可選，兼容多種校準件

• 支持多窗口、多通道測量，快速執行復雜測試方案

• 具有對數幅度、線性幅度、駐波、Smith圓圖等多種顯示格式

• 具有USB、GPIB、LAN和VGA接口

• 中/英文操作界面，12.1英寸1280*800高分辨率多點觸控顯示屏

• 錄制/運行，一鍵式操作簡化測量設置步驟，提高工作效率

• 具有一體化脈沖S參數測量、時域測量、混頻器測量、增益壓縮二維掃描測量、支持THz擴頻、天線與RCS測量接收等功能

思儀矢量網絡分析儀3672A/B/C/D/E應用：

時域分析可對設計進行全面表征

3672系列矢量網絡分析儀可通過配置時域測量選件實現測量結果頻域和時域之間的切換，用以確定器件、夾具或者電纜中的不連續點位置，實現故障精確定位。

增益壓縮二維掃描，提高測試效率

放大器等有源器件的增益壓縮測量應用（S86選件）僅需一次設置，一次連接，一次校準就可以得到放大器在頻域的所有增益壓縮參數（包括壓縮點的輸入功率，壓縮點的輸出功率，壓縮點的增益等）和線性參數（包括線性增益，輸入匹配，輸出匹配等）。具有：

• 快速準確的智能掃描；

• 一目了然的向導校準；

• 方便快捷的USB電子校準，USB功率校準；

• 二維掃描（頻率點掃功率和功率點掃頻率）一次完成；

• 多種壓縮方法——從線性/大增益壓縮、從飽和態壓縮、回退法和X/Y法。

  

混頻器/變頻器測試

3672系列矢量網絡分析儀四端口測量功能選件（400、S82、S83、S84選件）具有內置雙源，可以完成混頻器/變頻器標量和矢量參數測試。

1）混頻器/變頻器標量參數測量

混頻器/變頻器標量測量應用選件（S82選件）可以得到頻域的所有標量參數（包括輸入/輸出端口匹配、變頻增益、輸入/輸出端功率等）。相比以往測試方法其優勢在于：

• 一次連接設置，多參數測試一次性完成；

• 人性化簡易的校準界面；

• 方便快捷的USB電子校準，USB功率校準；

• 內置雙激勵源，無需額外信號源提供本振信號；

• 基于端口匹配的功率校準技術；

• 為用戶解決高準確度的混頻器標量參數測試需求。

 
2）混頻器/變頻器矢量參數測量

矢量混頻/變頻器件測試應用選件（S83選件）集變頻器件的變頻損耗或增益、端口輸入/輸出功率（正向及反向）、駐波、相位及群時延等參數測量于一體的測試應用軟件。其主要特點包括：

• 測量過程需使用一個參考混頻器進行表征；

• 內置雙激勵源，無需額外信號源提供本振信號；

• 測試參數全面，相比于標量混頻器測試增加了相位及群時延等參數的測試功能。

濾波器測試

3672系列矢量網絡分析儀具有濾波器測試菜單，可以得到濾波器在頻域的所有通帶指標（包括帶寬，中心頻點頻率、Q值，左截止頻率、右截止頻率等）和阻帶指標（包括動態范圍，隔離度等）。具有：

• 快速準確的分段掃描；

• 一目了然的校準向導；

• 快捷的高精度電子校準技術；

• 通帶和阻帶指標一次測量完成。

 
一體化脈沖S參數測試

3672系列矢量網絡分析儀具有脈沖調制信號輸出，可以完成脈沖狀態下S參數測試。具有：

• 內置四通道脈沖發生器和脈沖調制器，端口1、3可輸出脈沖調制信號；

• 完整的脈沖解決方案，可在寬帶模式和窄帶模式下進行脈沖內定點、脈沖包絡和掃頻脈沖測量；

• 可與外部脈沖發生器和脈沖調制器同步，實現復雜脈沖同步測試。

自動化測試

通過GPIB總線接口、網口提供靈活多樣的控制方式，只需完成設備的互聯，發送命令即可。為您提供一體化自動測試方案，包括自動校準、自動測量、自動讀取、自動打印等。具有：

• 簡單的控制方式，一根網線、一個GPIB卡；

• 有效的降低成本，解放有限的人力資源；

• 在有效的時間內完成更多的測試，大大縮短開發周期；

• 完成人工不可能完成的任務，如精確時間控制，復雜環境下的測試等。

 
高速信號完整性測試

• 支持多端口Touchstone 格式的S參數導出，并且支持大端口數據導入

• 支持時域TDR 的快速測試與顯示

• 支持混合模S參數的快速定義和測試

• 方便設置差分對和設置串擾里的攻擊線和受害線，求取近端串擾和遠端串擾

• 內置FEXT、NEXT、PSXT、ILD、ICN 和ICR 繪圖

• 支持眼圖生成，內置眼圖的模板測試功能

• 支持行業標準電氣層測試，包含USB Type C、IEEE 802.3,OIF CEI-25G/28G 等，并可以自定義標準

• 內置延時和抖動計算模塊，方便進行對內延時和對間延時計算

• 包含調整端口順序、S 參數拆分和S 參數合并等專業S 參數處理功能

• 內置報告模板，一鍵式繪制各種曲線，自動生成相應的word 和ppt文檔

• 內嵌多種去嵌方法，其中自動直通夾具去嵌則用于移除測試夾具的影響，從而獲得被測器件的S 參數；自動端口延伸可方便的利用開路或短路補償夾具的損耗和相位，減少夾具對測試結果的影響。